Chromatis色散測量系統可表征用于飛秒脈沖激光器的反射和透射光學組件的群延遲色散(GDD)特性。超快脈沖在通過光學系統傳播時會變寬；了解每個光學元件引起的GDD并適當補償失真，可以恢復短脈沖寬度。為了獲得高度準確和可靠的結果，Chromatis使用時域白光干涉儀(WLI)來測量GDD。該色散測量系統包含軟件，可指導用戶進行光束對準(條紋優化)、自動找到零延時位置(條紋對比max.)并快速測量色散。

Chromatis色散測量系統具有光纖耦合的穩定鹵素光源，其有效波長范圍為500至2100 nm。該寬帶光源可表征為用于鈦藍寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激光器的超快光學元件。由于干涉圖是在時域中記錄，因此可以使用單個光電二極管探測器(而不是光譜儀)進行測量，并且內置的HeNe參考激光器可對波長軸進行校準。該系統包括一個波長為500-1100 nm的硅光電二極管。但是，可以很容易地連接InGaAs探測器進行1000-1650 nm波長范圍內的測量。

通常，低色散光學元件僅需要幾百飛秒即可捕獲整個干涉圖，因此使用濾光片限制入射光的波長范圍常有助于減少所需的掃描范圍和總體噪聲。Chromatis色散測量系統具有六個用于濾光片的插槽，并且包含覆蓋500-700 nm、600-1000 nm和950-1100 nm波長范圍的帶通濾光片，用于與硅光電二極管配合使用。由于濾光會降低掃描的整體強度，因此會降低干擾對比度，而光電二極管具有可變的增益設置以補償此衰減。

• 用于測量色散的白光干涉儀
• 穩定鹵素光源的寬帶發射
• 可安裝Ø1/2英寸和Ø1英寸的光學元件
• 標準測量模式，包含夾具和參考光學元件

0°反射

0° - 70°透射

5° - 70°角度反射

• 可選反射鏡對夾具
• 同時測量S偏振和P偏振
• 包含用于波長自校準的HeNe參考激光器
• 包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器
• 可選兩個用戶可更換的探測器
• 機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備
• 由包含的預裝軟件Windows筆記本操作

• InGaAs 檢測器模塊，用于測量至 1650 nm
• 2”光學裝置
• 鏡對夾具
• 用于測量高色散光學器件（例如 AOM 晶體）的硬件
• 范圍擴展到7 或 2.2 微米

確認膜層設計規格

光學元件檢查

質量控制測量